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    东莞第三方检测中心冷热冲击测试价格优惠 电子产品冲击试验

    更新时间:2021-12-03   浏览数:9
    所属行业:
    发货地址:广东省深圳市宝安区  
    产品规格:
    产品数量:9999.00个
    包装说明:
    单 价:1000.00 元/个
    产品规格不限 服务地区全国 包装说明不限 检测结果报告形式 需提供样品3套
    冷热冲击试验和温湿度循环试验区别比较
    冷热冲击试验和温度循环试验都是环境可靠性试验的一种,验证产品在温度变化中质量和稳定性情况。同样对于温度变化的测试,两者区别不同点又在哪里呢?温度冲击试验与温度循环试验的差异主要是应力负荷机理不同。冷热冲击试验主要考察由于蠕变及疲劳损伤引起的失效,而温度循环主要考察由于剪切疲劳引起的失效。
    冷热冲击试验
    升温/降温速率不**30℃/分钟。温度变化范围很大,同时试验严酷度还随着温度变化率的增加而增加。
    温度冲击试验容许二槽式试验装置,温度循环试验使用单槽式试验装置。在二槽式箱体内,温度变化率要大于50℃/分钟。
    引起温度冲击的原因:回流焊、干燥、再加工、修理等制造、修理工艺中剧烈的温度变化。
    加速应力试验:加速试验是使用比在实际环境中*短的时间,对试验样品进行的加速试验,以考察其失效机理。试验的加速就是采用加大应力的方法促使试验样品在短期内失效,但是必须避免其他应力引起的失效机理。
    温度循环试验
    温度循环就是将试验样品暴露于预设的高低温交替的试验环境中。为避免温度冲击的影响,试验时温度变化率必须小于20℃/分钟。同时,为达到蠕变及疲劳损伤的效果,**试验温度循环为25℃~100℃,或者也可根据产品的用途使用0℃~100℃的循环试验,曝露时间为各15分钟。
    环境应力筛选试验
    对产品施加环境应力促使早期失效产品存在的潜在缺陷尽暴露而予以剔除。
    东莞第三方检测中心冷热冲击测试价格优惠
    冷热冲击试验箱的作用和特点,冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
    冷热冲击试验箱的特点有:1.产品外形美观、结构合理、工艺、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物静止,应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.
    2.采用采用的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习容易,稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转,大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;
    3.箱体左侧具一直径50之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件?闪⑸瓒ǜ呶隆⒌臀录袄淙瘸寤魅植煌跫之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。
    4.具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性
    5.可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜.出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成,贝尔冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。
    6.冷冻系统采用复迭低温回路系统设计,冷冻机组采用**进口压缩机,并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R507,R23.强安全保护功能:电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、温保护、报警声讯提示等。
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    热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*高温及*低温的连续环境下忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物伤害。
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    冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱,冷热循环试验箱;用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具
    执行满足标准及试验方法
    GJB150.5 温度冲击试验
    GJB360.7温度冲击试验
    GB/2423.22 温度冲击试验
    冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验,是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验?梢运道淙瘸寤魇匝橄湓谘橹ず吞岣咦氨傅幕肪呈视π苑矫嬗τ玫钠刀冉龃斡谡穸敫叩臀率匝椤
    冷热冲击试验作为一种测试方法,应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的:
    1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷;
    2、产品定型或设计和批产阶段验收决策提供依据;
    3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。
    常见的执行标准
    1、GJB 150《设备环境试验方法》
    2、GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》